固態硬盤RDT老化測試柜

     固態硬盤RDT老化測試柜是一種提供高溫環境的烘干設備。箱內空氣封閉自循環。老化柜內風道為不銹鋼結構。工作室內溫度由溫控儀自動控制，并有自動恒溫及時間控制裝置，并附設有超溫自動停電及報警電路，控制可靠，使用安全。固態硬盤RDT老化測試柜可滿足原生NVMe協議支持，兼容U.2、M.2、SATA老化的要求。

*產品技術參數

1.1 溫度范圍：R.T+10 ~ +70℃；

1.2 波 動 度：±1.0℃；

1.3 溫度偏差：≤±3.0℃；(空載條件下)

1.4 老化柜內尺寸：D660×W1930×H1450 ，深×寬×高mm；

1.5 老化柜外尺寸：D1000×W2490×H2160，深×寬×高mm；

1.6 升溫速度：≥2℃/min；（全程平均）

1.7 老化產品：原生NVMe協議支持，兼容U.2、M.2、SATA全部接口，單盤電流3.5A以上，一次性可老化960PCS產品。

1.8 整機功率：約27.00KW；

1.9 電   源：AC380V, 50Hz。